ライト／レーザーフラッシュは、材料の熱拡散率、熱伝導率、比熱容量を求めるために使用される測定手法です。ライトフラッシュ測定は、関心のあるサンプルに求められる特性が温度変化を遮断することであるのか、温度変化を伝達することであるのか、あるいは単に温度変化に耐えることであるのかを問わず、さまざまな材料の熱伝達特性と貯蔵特性の特性評価に不可欠です。熱伝達測定は、ある系における熱輸送のモデル化のためによく使用されますが、材料の組成と構造に関する情報のほか、熱衝撃に対する耐性などの二次的な性能特性に関する情報も反映します。ライト／レーザーフラッシュは、広範囲の温度にわたって熱拡散率を測定するための最も効果的な手段であり、正確かつ再現性のある結果を取得できる材料非破壊試験です。
キセノンおよびレーザーフラッシュ装置は、サンプルの片側で熱エネルギーのパルスを加え、サンプルの裏側で時間および昇温をそのエネルギー入力の結果として測定することで、材料中の熱拡散率、熱伝達速度を測定します。結果として得られるサーモグラムを使用して、熱伝導率と比熱容量を求めることが可能です。適用されるエネルギーは、TA Discovery Flash装置独自の高エネルギーレーザーまたはキセノンパルスソースで生成され、その結果として生じる昇温は、業界唯一の接触型PIN検出器または非接触型IR検出器によって測定されます。アプリケーションに理想的なパルスソースと検出器の選択は、サンプルの形態、寸法 (長さ、幅、厚さ)、予測される熱伝導率、測定温度範囲に依存します。
TAインスツルメントのDiscovery Flash製品ラインはベンチトップ型および床置き型分析装置の最も優れて範囲を提供します。－175°Cから2,800°Cまでの最も広い温度範囲にわたる測定能力と、パルスソースおよび検出器の複数のオプションにより、 真の外挿不要の測定が実現されます。多種のサンプルホルダーおよびフィクスチャーが用意されており、液体、ペースト、粉末をはじめとするさまざまな形態の材料の分析が可能です。また薄膜の面内測定、厚みのあるサンプルの面貫通分析、融解転移中の金属の分析も可能です。すべてのシステムには多検体オートサンプラーが備わっています。これにより、数倍の生産性向上が実現されるほか、比熱容量の結果の精度が大幅に向上されます。TAインスツルメント独自のライトフラッシュ技術と、フルタイムのパルスマッピング、高精度の光学系、および最新のデータ分析モデルとの統合により、Discovery Flashプラットフォームは最も汎用性が高く、正確で、精密なライトフラッシュシステムとなっています。
