DIL 805A/D淬火熱膨脹儀
DIL 805系列包括四種型號:DIL 805、DIL 805A是淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D是具有壓縮試樣變形能力的淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D/T還可在拉伸模式下進行伸展。
所有這四種儀器都是完全自動化的獨立單元,用於測量在受控制加熱和冷卻的極端條件下的尺寸變化。
DIL 805系列包括四種型號:DIL 805、DIL 805A是淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D是具有壓縮試樣變形能力的淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D/T還可在拉伸模式下進行伸展。
所有這四種儀器都是完全自動化的獨立單元,用於測量在受控制加熱和冷卻的極端條件下的尺寸變化。
DIL 806中使用的光學熱膨脹測量方法是一個絕對的測量過程,完全不受儀器任何可能膨脹或收縮的影響。因此,測量結果不需要針對不同的溫度程序進行修正或校準。透過與DIL 806爐膛的快速回應相結合,這使得該系統非常適合涉及多個溫度階梯和動態加熱速率的動態過程分析。
DIL 801和DIL 801L為臥式單樣品熱膨脹儀,適用於廣泛的常規熱膨脹測試。DIL 801專門用於在真空或惰性氣體下進行的測量,而DIL 801L專門用於在空氣中進行的測量,這使DIL 801L非常適用於測量通常在空氣中加工的陶瓷材料。
毋庸置疑,DIL 801和DIL 801L代表了目前市面上性價比最優的熱膨脹儀
為最大程度提高樣品輸送量,DIL 803和DIL 803L提供雙樣本同時執行。此外還可使用惰性參比樣品來執行DIL 803/803L,以便進行准差分測量,從而減小測量系統膨脹的影響,以及提高在動態溫度條件下的測試準確度。DIL 803專門用於在真空或惰性氣體下進行的測量,而DIL 803L專門用於在空氣下進行的測量,這使DIL 803L非常適用於測量陶瓷材料
為實現最高準確度和精確度,DIL 802和802L提供了真實差分測量。真實差分設計僅測量樣品與參比試樣之間的差異,否定測量系統膨脹對樣品測量的影響。此測量設計特別有益於動態溫度程序(例如在速率控制燒結(RCS)中所採用的)和較低溫度下的測試。DIL 802專門用於在真空或惰性氣體下進行的測量,而DIL 802L專門用於在空氣下進行的測量。
DIL 805系列包括四種型號:DIL 805、DIL 805A是淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D是具有壓縮試樣變形能力的淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D/T還可在拉伸模式下進行伸展。
所有這四種儀器都是完全自動化的獨立單元,用於測量在受控制加熱和冷卻的極端條件下的尺寸變化。
DIL 805系列包括四種型號:DIL 805、DIL 805A是淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D是具有壓縮試樣變形能力的淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D/T還可在拉伸模式下進行伸展。
所有這四種儀器都是完全自動化的獨立單元,用於測量在受控制加熱和冷卻的極端條件下的尺寸變化。
DIL 805系列包括四種型號:DIL 805、DIL 805A是淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D是具有壓縮試樣變形能力的淬火熱膨脹儀,DIL 805A/D/T還可在拉伸模式下進行伸展。
所有這四種儀器都是完全自動化的獨立單元,用於測量在受控制加熱和冷卻的極端條件下的尺寸變化。
經過20多年對用於研究材料熱力學行為的光學儀器的研發,ODP 868終於突破了傳統高溫顯微鏡的樣品分析極限。其通用性使得ODP 868成為生產和研發實驗室對涉及熱循環的工業過程進行最佳化的最創新性工具。
高溫顯微鏡模式採用500萬圖元高解析度攝像頭,用以研究材料在工業燒制週期中的物理行為。
經過20多年對用於研究材料熱力學行為的光學儀器的研發,HM 867終於突破了傳統高溫顯微鏡的樣品分析極限。其通用性使得HM 867成為研發以及對涉及熱循環的工業過程進行最佳化的最創新性工具。
其採用光和熱分析領域的先進技術,並且配有Misura 4熱分析軟體,這個經過驗證的軟體平台為儀器控制和資料處理提供了一個直觀的介面,並且具有最全面、最精確的圖像分析。
820HT系列儀器在工作時可達到高溫並保持垂直方向,這使其能夠以獨特方式進行設定,以便分析燒結,在速率控制燒結(RCS)模式下進行研究,以及測定樣品的膨脹參數,而在採用臥式設計的傳統熱膨脹儀上無法正確分析這些參數。
提供了兩種不同型號(DIL 821HT和DIL 822HT),這兩個裝置均採用具有1nm解析度的新光學編碼器。在搭配使用DIL822HT的獨特真實差分測量技術時,可獲得高溫細分市場上最佳的測量敏感度和CTE準確度。
DIL 820系列儀器在工作時保持垂直方向,這使其能夠以獨特方式進行設定,以便分析燒結,在速率控制燒結(RCS)模式下進行研究,以及測定樣品的膨脹參數,而在採用臥式設計的傳統熱膨脹儀上難以分析這些參數。
提供了兩種不同型號(DIL 821和DIL 822),這兩個設備均採用具有1nm解析度的新光學編碼器。在搭配使用DIL822的獨特真實差分測量技術時,可獲得市場上最佳的測量敏感度和CTE準確度。