DIL 820系列儀器在工作時保持垂直方向，這使其能夠以獨特方式進行設定，以便分析燒結，在速率控制燒結(RCS)模式下進行研究，以及測定樣品的膨脹參數，而在採用臥式設計的傳統熱膨脹儀上難以分析這些參數。
提供了兩種不同型號（DIL 821和DIL 822），這兩個設備均採用具有1nm解析度的新光學編碼器。在搭配使用DIL822的獨特真實差分測量技術時，可獲得市場上最佳的測量敏感度和CTE準確度。
不同於臥式膨脹儀，立式設計不需要支撐樣品。試樣獨立位於底板上，在其尖端上載入了推桿。
立式設定尤其適用於燒結研究以及那些難以使用臥式推桿熱膨脹儀測試的所有樣品。例如粉末樣品，以及在測試過程中形成玻璃相的樣品。
DIL 820系列配有線性電機，能夠在整個實驗中提供恒定力，無論試樣尺寸如何改變，DIL 820系列都可實現盡可能最輕的力。
| DIL 821 | DIL 822 | |
| 樣品長度 | 0至25 mm | |
| 樣品直徑： | 10mm | 5mm |
| 樣品架的材料： | 熔融二氧化矽，Al2O3 | |
| 接觸力： | 0.01 – 1.0N | |
| 長度變化： | 5mm | |
| 解析度∆L°C： | 1nm，0.05°C | |
| α準確度： | 0.03 x 10-6 K-1 | 0.01 x 10-6 K-1 |
| 氣氛： | 真空、惰性氣體、空氣（包含具有質流控制器的氣體裝置和真空裝置） | |
| 溫度範圍： | RT – 1100°C
RT – 1500°C 100 – 1700°C |
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不同於臥式膨脹儀，立式設計不需要支撐樣品。試樣獨立位於底板上，在其尖端上載入了推桿。
立式設定尤其適用於合成研究中的高溫測量以及粉末樣品。當在高溫下長時間測試中使用時，其還可防止測量系統和爐管下垂，從而延長儀器的使用壽命。
增量式光學編碼器的測量範圍寬，解析度高達1 nm。這可使該選件用於較小的樣品，從而因熱梯度下降而實現明顯更好的測試測量。此外，該線性磁碟機可產生0.01 N至1 N的極精確、真正恒定的樣品載入。
這些創新技術與DIL 820系列的設計相結合使TA Instrument立式熱膨脹儀成為進行高燒結率測量以及對具有高收縮率的樣品進行實驗的理想儀器。
例如，WinTA軟體的新T-RCS（真實速率控制燒結）功能可自動修正加熱曲線，從而在燒結陶瓷生坯時實現恒定的燒結率（單位時間的收縮量）。樣品真實的絕對收縮量必須即時加以記錄和解釋。在這種情況下，DIL 822和DIL 822HT的真實差分測量系統可成為完美解決方案。
在另一個範例中，在樣品下方和頂部放置氧化鋁圓盤後，使用者可使實驗溫度達到樣品的軟化點，同時不損壞測量系統。立式設計的主要優勢為不需要將樣品放置在支架上。這消除了在收縮/膨脹過程中產生的摩擦，從而可防止任何可能的相關測量誤差以及對測量系統的損壞。
此外，由於立式設計和精確的力控制可防止試樣塌陷或鬆垂，因此可輕鬆測量易碎、粉狀或軟化的樣品。
DIL 820 Series Vertical Dilatometers
The New ODP860 Series – Optical Dilatometry Platform
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