DLF 1600

高功率雷射與先進光學

DLF 1600 提供業界最強大穩定的雷射光源和最高效率的傳輸系統。專利第 1 級釹磷酸鹽玻璃雷射與光纖功率棒系統，內建校準功能，可確保有效產生雷射能量並傳輸到試樣。

• TA 設計和製造的專利雷射
• 相較於最接近的同級系統，傳輸到試樣表面的能量多 40%
• 99% 均勻的雷射能量曲線
• 無雜訊設計 – 雷射和爐膛模組相分隔可消除電磁干擾的影響，確保光學校準的長期穩定性

彈性高效率試樣轉盤

只有 DLF 1600 提供標準轉盤，能夠在一次實驗中同時對於最多五個試樣進行高達 1600°C 的實驗。轉盤接受直徑達到 15.9 公釐且厚度達到 10 公釐的試樣，相較於任何同級閃光儀器，直徑大 20%，厚度大 50%。可選的托盤和配接器可以適應各種試樣尺寸和形狀，包括圓形和方形。專用試樣架可盛裝液體、粉末、糊狀物、層壓板和薄膜的平面測試器材。

1600°C 爐膛

DLF 1600 爐膛的巧妙設計在溫度效能的各個方面均與同級閃光分析儀器不同。爐膛運用高品質矽化鉬 (MoSi₂) 加熱器、高純度氧化鋁隔焰室管，以及沿其長度可防止熱擾動的多個擋板。最終產生的爐膛能夠達到最穩定一致的加熱效果，在 1600°C 穩定控制試樣。操作 DLF 1600 時，轉盤中的每個試樣絶對可在整個測試時間內達到並維持從環境溫度到 1600°C 的設定溫度。試樣測試可以在靜態或動態大氣中進行，包括真空、含氧或惰性氣體吹掃。最終進行從室溫到 1600°C 的可重現熱擴散測量。

高精度紅外偵測器與光學

DLF 1600 包含高靈敏度液態氮低溫銦銻 (InSb) 紅外偵測器，在整個溫度範圍可達到最佳訊號雜訊比。內建液態氮保溫真空瓶提供無人操作的 24 小時運作，可延長實驗時間，完全無間斷。此外，偵測器路徑的光學元件可確保對於試樣溫譜圖進行一致且準確的測量。紅外偵測區域涵蓋 90% 以上的試樣表面，因此收集代表性的資料，而不受外界輻射的影響，包括不完善的試樣準備引起的邊緣效應，例如「閃過」。

絕佳準確度和可重複性

定義一組測量數據與真實值相近程度的準確度，對於瞭解儀器在已知條件下的運作情況相當重要。右上方的數據顯示一個鉬試樣連續三次實驗並與參考值比較所得到的結果。資料顯示整個溫度範圍的 DLF 1600 準確度高於 ±2%，優於規格的 2.3%。必須注意的是，即使達到 1600°C 的溫度上限，結果也相當準確，偏差僅 1.26%。

測量系統的可重複性或精度是由同一儀器在相同條件下進行測量時出現的變化所決定。右下方的數據顯示從室溫到 1600°C 且每次調高 100°C 測量五個鉬試樣所達到的測量可重複性。與平均的偏差在 ±1% 內，幾乎 80% 的結果都在平均的 ±0.5% 內。這些結果在規格的 ±2% 內，對於整個溫度範圍展現 DLF 1600 的絕佳可重複性。

最準確的擴散測量 – 即使在最極端的條件下

任何儀器進行準確測量的能力取決於系統的所有設計元件共同運作的效率。在閃光儀器上，這些元件包括光源、脈衝傳輸、偵測器，以及爐膛。瞭解閃光系統效能的好方法，是在同時達到所有元件測量極限的條件下評估試樣。最大厚度和最高溫度的試樣是此類閃光極端使用情況的其中一例。

9.9 公釐厚的熱石墨試樣 (比同級儀器允許的厚度上限多 65%) 經過 DLF 1600 測試，測試溫度從 100°C 調高到 1600°C，每次調高 100°C。右上方顯示了 1600°C 最困難之測量的原始資料溫譜圖。這裡可以看出，DLF 1600 結合高能量專利雷射和脈衝輸送、有均勻熱區的高溫爐膛、靈敏的紅外偵測器，以及 16 位元資料處理，產生高訊號雜訊比，因此得到最苛刻的條件下絕佳的溫譜圖結果。

右下圖顯示 9.9 公釐厚的熱石墨試樣與厚度各為 3.2 公釐和 6.1 公釐的兩個較薄試樣相比的熱擴散結果，該圖另疊加參考資料。圖中的結果清楚顯示 DLF 1600 的絕佳設計可在最多樣的條件下進行準確的測量。所有值均介於參考的 ±2% 內。即使在最嚴苛的條件下進行最大厚度且超過 50% 的熱擴散測量，顯示偏差小於 1%。