Patentierte Technologie für die sensitivste und leistungsstarke Xenon-Plattform
Der Discovery Xenon Flash 200+ verfügt über die patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle und den anamorphotischen, facettenreichen Light PipeTM Lichtleiter. Zusammen liefern diese Optiken einen Lichtpuls von unübertroffener Leistung und gleichmäßiger Intensität an die Probe, während eine Fehlstrahlung auf den Probenhalter verhindert wird. Nur das Hochenergie-Xenon-Design von TA Instruments ist in der Lage, Proben mit einem Durchmesser von 25,4 mm über einen Temperaturbereich von -175 °C bis 900 °C zu testen. Die Verwendung großer Proben verringert mit Inhomogenität verbundene Fehler und ermöglicht repräsentative Messungen auch an schlecht dispergierten Verbundmaterialien. Die DXF-Plattform ist sowohl für Forschungs- und Entwicklungsprogramme als auch für die Produktionskontrolle konzipiert.
DXF 200+ Merkmale
- Tieftemperatursystem mit hocheffizienter Flüssigstickstoff-Kühlung und Festkörper-PIN-Detektoren für eine genaue und stabile Temperaturregelung auf branchenführende -175 °C.
- Leicht austauschbare Autosampler-Tabletts können bis zu zwölf Proben mit einem Durchmesser von 12,7 mm oder sechs Proben mit einem Durchmesser von 25,4 mm sowie viele weitere Größen und Formen aufnehmen.
- Die softwaregesteuerte PIN-Beladung kann angepasst werden, um einen perfekten Kontakt unabhängig von der Probendicke aufrechtzuerhalten.
- Das patentierte High Speed Xenon-Puls-Delivery-System liefert 50 % mehr Energie als vergleichbare Geräte und ermöglicht so ein Höchstmaß an Genauigkeit bei einem breiten Spektrum an Proben, unabhängig von deren Dicke oder Wärmeleitfähigkeit.
- Große Auswahl an Autosampler-Tabletts für verschiedene Probengrößen (bis zu 25,4 mm), Formen und spezielle Vorrichtungen (Flüssigkeiten, Pulver, Laminate, Folien usw.) für maximale Flexibilität bei der Probenprüfung.
- Patentierter Light Pipe™ Lichtleiter für die effektivste Sammlung und Kollimation von Licht und eine homogene Strahlungsabgabe an die Probe.
- Kann Proben mit einem maximalen Durchmesser von 25,4 mm Durchmesser testen, für eine einfachere Probenvorbereitung und -handhabung sowie verbesserte Ergebnisse bei inhomogenen Materialien.
- Echtzeit-Puls-Mapping für überlegene Messungen der Temperaturleitfähigkeit dünner und hochleitfähiger Materialien.
- Entwickelt, um Industriestandard-Testmethoden zu erfüllen, einschließlich: ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-Teil4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 und DIN EN821
Xenon Flash Quelle
| Typ | Xenon, Tischgerät |
| Impulsenergie (variabel) | Variabel bis zu 15 Joules |
| Impulslänge | 400 µs bis 600 µs |
| Übertragungsoptik | Light Pipe Lichtleiter |
Ofen
| Probentemperaturbereich | -175°C to 200°C |
| Atmosphäre | Luft, Inertgas, Vakuum (50 mtorr) |
Sensorleistung
| Bereich des thermischen Diffusionsvermögens | 0,01 – 1000 mm2/s |
| Wärmeleitfähigkeitsbereich | 0,1 bis 2000 W/(mK) |
| Datenerfassung | 16 Bit |
Genauigkeit
| Temperaturleitfähigkeit | ±2,3% |
| Wärmeleitfähigkeit | ±4% |
Wiederholbarkeit
| Temperaturleitfähigkeit | ±2,0% |
| Wärmeleitfähigkeit | ±3,5% |
Probenform
| Rund | 8, 10, 12,7 und 25,4 mm Durchmesser |
| Quadratisch | 8, 10, 12,7 mm Länge |
| Maximale Dicke | 10 mm |
Autosampler
| Typ | Karussell mit zwölf Positionen |
Branchenweit niedrigste minimale Temperatur: -175 ˚C
Branchenweit niedrigste minimale Temperatur: -175 ˚C
Der DXF 200+ verfügt über einen Ofen mit einem effizienten Flüssigstickstoff-Kühlsystem für eine stabile und genaue Temperaturregelung von -175 °C bis 200 °C. Nur der DXF 200+ ist in der Lage, die Wärmemanagementeigenschaften von Materialien bis -175˚C zu testen, was ihn zur klaren Wahl für Wissenschaftler macht, die sich für den kryogenen Bereich interessieren.
Verbesserte Temperaturerkennung durch Festkörper-PIN-Detektor
Verbesserte Temperaturerkennung durch Festkörper-PIN-Detektor
Der DXF 200+ verfügt über einen einzigartigen Dual-PIN-Detektor, der eine optimale Sensitivität und Reaktionszeit bei Temperaturen unterhalb von Raumtemperatur bietet. Die Amplitude des bei -175 °C vom PIN-Detektor in direktem Kontakt mit der Probe gemessenen Signals ist typischerweise fünfmal größer als das Signal bei der niedrigsten detektierbaren Temperatur eines herkömmlichen IR-Detektors (üblicherweise 25 °C) beträgt. Dadurch entfällt die Notwendigkeit einer Signalverstärkung, wie sie bei MCT-IR-Detektoren erforderlich ist, die bei oder unterhalb von Raumtemperatur betrieben werden. Das Ergebnis ist ein verbessertes Thermogramm mit einem größeren Signal-Rausch-Verhältnis, einer erhöhten Genauigkeit der Messungen von spezifischer Wärmekapazität und Wärmeleitfähigkeit sowie ein zuverlässiger Datensatz für eine mühelose Analyse nach dem Test.
Patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle
Patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle
Der DXF 200+ verfügt über die proprietäre High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle. Mit seinen 15 Joule Energie ist der von der HSXD erzeugte Lichtpuls der leistungsstärkste und gleichmäßigste Lichtpuls aller auf dem Markt erhältlichen Xenon-Flash-Systeme.
Großer Probendurchmesser von 25,4 mm für einfaches Probenhandling
Großer Probendurchmesser von 25,4 mm für einfaches Probenhandling
Kein anderer Anbieter bietet die Möglichkeit, Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25,4 mm über einen so breiten Temperaturbereich zu testen. Größere Proben sind einfacher zu präparieren und zu handhaben, garantieren repräsentativere und reproduzierbarere Daten und liefern verbesserte Ergebnisse bei Verbundwerkstoffen oder inhomogen dispergierten Materialien.
Echtzeit-Puls-Mapping
Echtzeit-Puls-Mapping
Das Echtzeit-Puls-Mapping-System berücksichtigt den endlichen Pulsbreiteneffekt und die Wärmeverluste, die für die Datengenauigkeit von entscheidender Bedeutung sind, insbesondere bei der Messung dünner und hochleitfähiger Materialien.
Niedrigste Temperatur mit höchstem Signal-Rausch-Verhältnis
Niedrigste Temperatur mit höchstem Signal-Rausch-Verhältnis
Die steigende Nachfrage nach neuen Hochleistungsmaterialien für die Luft- und Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie hat die Nachfrage nach Flash-Diffusivitäts-Messgeräten mit niedrigerem Temperaturbereich bei besserer Datenqualität erhöht. Der Festkörper-Dual-PIN-Detektor kann bis zu einer Minimaltemperatur von -175 ˚C mit hervorragender Datenqualität betrieben werden. Die Abbildung rechts oben zeigt die Qualität des Signal-Rausch-Verhältnisses (SNR) des DXF200+ bei kryogenen Temperaturen. Selbst bei -175 ˚C ist die Amplitude des direkt gemessenen Signals beim Festkörper-PIN-Detektor etwa fünfmal größer als bei einem herkömmlichen IR-Detektor bei Raumtemperatur.
Konsistente Daten von -175°C bis 900°C
Konsistente Daten von -175°C bis 900°C
Hochleistungswerkstoffe müssen oft von extrem niedrigen bis hohen Temperaturen charakterisiert werden. Die Grafik unten rechts zeigt ein sauerstofffreies Referenzmaterial aus Kupfer mit hoher Wärmeleitfähigkeit (OFHC), bei dem die Wärmeleitfähigkeit von -175 °C bis 900 °C mit einem DXF200+ und einem DXF 900 gemessen wurde.
Alle Messungen liegen innerhalb von ±1,5% der Referenzwerte. Beachten Sie die Übereinstimmung der Werte zwischen Raumtemperatur und 200 ˚C
Die bewährte Softwareplattform für einfache und genaue Flash-Analysedaten
Alle Discovery Light Flash-Geräten nutzen die Software FlashLine™ zur Gerätesteuerung und Datenanalyse. Die für Microsoft Windows programmierte Software weist ein intuitiv bedienbares, tabellenbasiertes Format auf, das eine einfache Programmierung experimenteller Parameter auf der Oberfläche der Gerätesteuerung ermöglicht. Die Echtzeitüberwachung erlaubt eine unmittelbare Bewertung von Datenqualität und Geräteleistung während der Testdurchführung. Die automatischen Routinen des Datenanalysemoduls bieten den Anwendern erweiterte Analysewerkzeuge, einschließlich Modellen für die Wärmeverlustkorrektur sowohl bei Leitung als auch bei Strahlung.
Dank des integrierten Messsystems mit Echtzeit-Puls-Mapping bestimmt FlashLine die exakte Form des Laserpulses als Funktion der Zeit für die Pulsform- und -breitenkorrektur. Es identifiziert auch den Nullpunkt des Pulses und ermöglicht eine finite Pulseffektkorrektur, welche für genaue Messungen von dünnen Proben und Materialien mithoher Temperaturleitfähigkeit unabdingbar ist. Darüber hinaus ermöglicht das von TA Instruments entwickelte Bewertungsprogramm „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) den Benutzern, unter durch verschiedene Modelle berechnete Temperaturleitfähigkeiten das am besten geeignete Ergebnis auszuwählen.
Softwarefunktionen:
- Unbegrenzte Temperatursegmente mit benutzerdefinierbaren Wärmerampenstufen
- Vom Benutzer wählbare Laserenergie für jede Probe und jedes Temperatursegment
- Datenanalyse für alle bereits abgeschlossenen Segmente während der noch laufenden Messung
- Bestimmung der spezifischen Wärme durch Vergleichsmethoden
- Option einer automatischen Auswahl und Mittelwertbildung mehrerer Aufnahmen
- Korrektur für die Strahlungskomponenten bei transparenten und lichtdurchlässigen Proben
- Automatische Optimierung der Pulsenergiestärke
- Option zum Überspringen von Proben und eines Präzisionskriteriums
- Schneller Zoom für X- und Y-Segmente
- Tabellen und Kurven der Temperaturleitfähigkeit, spezifischen Wärme und Wärmeleitfähigkeit als Funktion der Temperatur
- Berechnungen aller Modelle während der Prüfung und der Modelle, die bei Abschluss der Prüfung verfügbar sind
Zu den Standardmodellen gehören:
- Gembarovic für die mehrdimensionale Wärmeverlustkorrektur und nichtlineare Regression
- „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) für die Auswahl des besten Modellergebnisses
- Pulsschwerpunkt zur Bestimmung von t0
- Pulslängen- und -formkorrektur
- Zwei- und Dreischichtanalyse
- In-Plane
- Hauptmodelle: Clark und Taylor, Cowan, Degiovanni, Koski, kleinste Quadrate, logarithmisch, Moment, Heckman, Azumi und Parker
Spezielle Probenhalterungen
Laser- und Xenon-Flash-Geräte sind führend in der Forschung und Entwicklung von Hochleistungsmaterialien und der Untersuchung von Wärmemanagementeigenschaften. Zubehör für Standardgrößen und -formen reicht oft nicht aus, um spezielle Muster oder innovative Materialien zu testen.
In Zusammenarbeit mit fortgeschrittenen Anwendern renommierter Labors hat TA eine Reihe von Probenhaltern entwickelt, speziell für die Analyse von:
- Flüssigkeiten
- Pulver
- Pasten
- In-Plane-Testen von dünnen Schichten mit hoher Leitfähigkeit
- In-Plane-Prüfung von Laminaten
Angesichts der ständig steigenden Zahl neuer Materialien, die eine Charakterisierung der Wärmeübertragung erfordern, arbeitet TA mit unseren Kunden an der Entwicklung von Vorrichtungen, um ihre einzigartigen Prüfanforderungen zu erfüllen.
- Beschreibung
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Der Discovery Xenon Flash 200+ verfügt über die patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle und den anamorphotischen, facettenreichen Light PipeTM Lichtleiter. Zusammen liefern diese Optiken einen Lichtpuls von unübertroffener Leistung und gleichmäßiger Intensität an die Probe, während eine Fehlstrahlung auf den Probenhalter verhindert wird. Nur das Hochenergie-Xenon-Design von TA Instruments ist in der Lage, Proben mit einem Durchmesser von 25,4 mm über einen Temperaturbereich von -175 °C bis 900 °C zu testen. Die Verwendung großer Proben verringert mit Inhomogenität verbundene Fehler und ermöglicht repräsentative Messungen auch an schlecht dispergierten Verbundmaterialien. Die DXF-Plattform ist sowohl für Forschungs- und Entwicklungsprogramme als auch für die Produktionskontrolle konzipiert.
- Merkmale
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DXF 200+ Merkmale
- Tieftemperatursystem mit hocheffizienter Flüssigstickstoff-Kühlung und Festkörper-PIN-Detektoren für eine genaue und stabile Temperaturregelung auf branchenführende -175 °C.
- Leicht austauschbare Autosampler-Tabletts können bis zu zwölf Proben mit einem Durchmesser von 12,7 mm oder sechs Proben mit einem Durchmesser von 25,4 mm sowie viele weitere Größen und Formen aufnehmen.
- Die softwaregesteuerte PIN-Beladung kann angepasst werden, um einen perfekten Kontakt unabhängig von der Probendicke aufrechtzuerhalten.
- Das patentierte High Speed Xenon-Puls-Delivery-System liefert 50 % mehr Energie als vergleichbare Geräte und ermöglicht so ein Höchstmaß an Genauigkeit bei einem breiten Spektrum an Proben, unabhängig von deren Dicke oder Wärmeleitfähigkeit.
- Große Auswahl an Autosampler-Tabletts für verschiedene Probengrößen (bis zu 25,4 mm), Formen und spezielle Vorrichtungen (Flüssigkeiten, Pulver, Laminate, Folien usw.) für maximale Flexibilität bei der Probenprüfung.
- Patentierter Light Pipe™ Lichtleiter für die effektivste Sammlung und Kollimation von Licht und eine homogene Strahlungsabgabe an die Probe.
- Kann Proben mit einem maximalen Durchmesser von 25,4 mm Durchmesser testen, für eine einfachere Probenvorbereitung und -handhabung sowie verbesserte Ergebnisse bei inhomogenen Materialien.
- Echtzeit-Puls-Mapping für überlegene Messungen der Temperaturleitfähigkeit dünner und hochleitfähiger Materialien.
- Entwickelt, um Industriestandard-Testmethoden zu erfüllen, einschließlich: ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-Teil4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 und DIN EN821
- Technische Daten
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Xenon Flash Quelle
Typ Xenon, Tischgerät Impulsenergie (variabel) Variabel bis zu 15 Joules Impulslänge 400 µs bis 600 µs Übertragungsoptik Light Pipe Lichtleiter Ofen
Probentemperaturbereich -175°C to 200°C Atmosphäre Luft, Inertgas, Vakuum (50 mtorr) Sensorleistung
Bereich des thermischen Diffusionsvermögens 0,01 – 1000 mm2/s Wärmeleitfähigkeitsbereich 0,1 bis 2000 W/(mK) Datenerfassung 16 Bit Genauigkeit
Temperaturleitfähigkeit ±2,3% Wärmeleitfähigkeit ±4% Wiederholbarkeit
Temperaturleitfähigkeit ±2,0% Wärmeleitfähigkeit ±3,5% Probenform
Rund 8, 10, 12,7 und 25,4 mm Durchmesser Quadratisch 8, 10, 12,7 mm Länge Maximale Dicke 10 mm Autosampler
Typ Karussell mit zwölf Positionen - Technologie
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Branchenweit niedrigste minimale Temperatur: -175 ˚C
Branchenweit niedrigste minimale Temperatur: -175 ˚C
Der DXF 200+ verfügt über einen Ofen mit einem effizienten Flüssigstickstoff-Kühlsystem für eine stabile und genaue Temperaturregelung von -175 °C bis 200 °C. Nur der DXF 200+ ist in der Lage, die Wärmemanagementeigenschaften von Materialien bis -175˚C zu testen, was ihn zur klaren Wahl für Wissenschaftler macht, die sich für den kryogenen Bereich interessieren.
Verbesserte Temperaturerkennung durch Festkörper-PIN-Detektor
Verbesserte Temperaturerkennung durch Festkörper-PIN-Detektor
Der DXF 200+ verfügt über einen einzigartigen Dual-PIN-Detektor, der eine optimale Sensitivität und Reaktionszeit bei Temperaturen unterhalb von Raumtemperatur bietet. Die Amplitude des bei -175 °C vom PIN-Detektor in direktem Kontakt mit der Probe gemessenen Signals ist typischerweise fünfmal größer als das Signal bei der niedrigsten detektierbaren Temperatur eines herkömmlichen IR-Detektors (üblicherweise 25 °C) beträgt. Dadurch entfällt die Notwendigkeit einer Signalverstärkung, wie sie bei MCT-IR-Detektoren erforderlich ist, die bei oder unterhalb von Raumtemperatur betrieben werden. Das Ergebnis ist ein verbessertes Thermogramm mit einem größeren Signal-Rausch-Verhältnis, einer erhöhten Genauigkeit der Messungen von spezifischer Wärmekapazität und Wärmeleitfähigkeit sowie ein zuverlässiger Datensatz für eine mühelose Analyse nach dem Test.
Patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle
Patentierte High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle
Der DXF 200+ verfügt über die proprietäre High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) Lichtquelle. Mit seinen 15 Joule Energie ist der von der HSXD erzeugte Lichtpuls der leistungsstärkste und gleichmäßigste Lichtpuls aller auf dem Markt erhältlichen Xenon-Flash-Systeme.
Großer Probendurchmesser von 25,4 mm für einfaches Probenhandling
Großer Probendurchmesser von 25,4 mm für einfaches Probenhandling
Kein anderer Anbieter bietet die Möglichkeit, Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25,4 mm über einen so breiten Temperaturbereich zu testen. Größere Proben sind einfacher zu präparieren und zu handhaben, garantieren repräsentativere und reproduzierbarere Daten und liefern verbesserte Ergebnisse bei Verbundwerkstoffen oder inhomogen dispergierten Materialien.
Echtzeit-Puls-Mapping
Echtzeit-Puls-Mapping
Das Echtzeit-Puls-Mapping-System berücksichtigt den endlichen Pulsbreiteneffekt und die Wärmeverluste, die für die Datengenauigkeit von entscheidender Bedeutung sind, insbesondere bei der Messung dünner und hochleitfähiger Materialien.
- Leistung
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Niedrigste Temperatur mit höchstem Signal-Rausch-Verhältnis
Niedrigste Temperatur mit höchstem Signal-Rausch-Verhältnis
Die steigende Nachfrage nach neuen Hochleistungsmaterialien für die Luft- und Raumfahrt- und Verteidigungsindustrie hat die Nachfrage nach Flash-Diffusivitäts-Messgeräten mit niedrigerem Temperaturbereich bei besserer Datenqualität erhöht. Der Festkörper-Dual-PIN-Detektor kann bis zu einer Minimaltemperatur von -175 ˚C mit hervorragender Datenqualität betrieben werden. Die Abbildung rechts oben zeigt die Qualität des Signal-Rausch-Verhältnisses (SNR) des DXF200+ bei kryogenen Temperaturen. Selbst bei -175 ˚C ist die Amplitude des direkt gemessenen Signals beim Festkörper-PIN-Detektor etwa fünfmal größer als bei einem herkömmlichen IR-Detektor bei Raumtemperatur.
Konsistente Daten von -175°C bis 900°C
Konsistente Daten von -175°C bis 900°C
Hochleistungswerkstoffe müssen oft von extrem niedrigen bis hohen Temperaturen charakterisiert werden. Die Grafik unten rechts zeigt ein sauerstofffreies Referenzmaterial aus Kupfer mit hoher Wärmeleitfähigkeit (OFHC), bei dem die Wärmeleitfähigkeit von -175 °C bis 900 °C mit einem DXF200+ und einem DXF 900 gemessen wurde.Alle Messungen liegen innerhalb von ±1,5% der Referenzwerte. Beachten Sie die Übereinstimmung der Werte zwischen Raumtemperatur und 200 ˚C
- Software
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Die bewährte Softwareplattform für einfache und genaue Flash-Analysedaten
Alle Discovery Light Flash-Geräten nutzen die Software FlashLine™ zur Gerätesteuerung und Datenanalyse. Die für Microsoft Windows programmierte Software weist ein intuitiv bedienbares, tabellenbasiertes Format auf, das eine einfache Programmierung experimenteller Parameter auf der Oberfläche der Gerätesteuerung ermöglicht. Die Echtzeitüberwachung erlaubt eine unmittelbare Bewertung von Datenqualität und Geräteleistung während der Testdurchführung. Die automatischen Routinen des Datenanalysemoduls bieten den Anwendern erweiterte Analysewerkzeuge, einschließlich Modellen für die Wärmeverlustkorrektur sowohl bei Leitung als auch bei Strahlung.Dank des integrierten Messsystems mit Echtzeit-Puls-Mapping bestimmt FlashLine die exakte Form des Laserpulses als Funktion der Zeit für die Pulsform- und -breitenkorrektur. Es identifiziert auch den Nullpunkt des Pulses und ermöglicht eine finite Pulseffektkorrektur, welche für genaue Messungen von dünnen Proben und Materialien mithoher Temperaturleitfähigkeit unabdingbar ist. Darüber hinaus ermöglicht das von TA Instruments entwickelte Bewertungsprogramm „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) den Benutzern, unter durch verschiedene Modelle berechnete Temperaturleitfähigkeiten das am besten geeignete Ergebnis auszuwählen.
Softwarefunktionen:
- Unbegrenzte Temperatursegmente mit benutzerdefinierbaren Wärmerampenstufen
- Vom Benutzer wählbare Laserenergie für jede Probe und jedes Temperatursegment
- Datenanalyse für alle bereits abgeschlossenen Segmente während der noch laufenden Messung
- Bestimmung der spezifischen Wärme durch Vergleichsmethoden
- Option einer automatischen Auswahl und Mittelwertbildung mehrerer Aufnahmen
- Korrektur für die Strahlungskomponenten bei transparenten und lichtdurchlässigen Proben
- Automatische Optimierung der Pulsenergiestärke
- Option zum Überspringen von Proben und eines Präzisionskriteriums
- Schneller Zoom für X- und Y-Segmente
- Tabellen und Kurven der Temperaturleitfähigkeit, spezifischen Wärme und Wärmeleitfähigkeit als Funktion der Temperatur
- Berechnungen aller Modelle während der Prüfung und der Modelle, die bei Abschluss der Prüfung verfügbar sind
Zu den Standardmodellen gehören:
- Gembarovic für die mehrdimensionale Wärmeverlustkorrektur und nichtlineare Regression
- „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) für die Auswahl des besten Modellergebnisses
- Pulsschwerpunkt zur Bestimmung von t0
- Pulslängen- und -formkorrektur
- Zwei- und Dreischichtanalyse
- In-Plane
- Hauptmodelle: Clark und Taylor, Cowan, Degiovanni, Koski, kleinste Quadrate, logarithmisch, Moment, Heckman, Azumi und Parker
- Probenhalter
-
Spezielle Probenhalterungen
Laser- und Xenon-Flash-Geräte sind führend in der Forschung und Entwicklung von Hochleistungsmaterialien und der Untersuchung von Wärmemanagementeigenschaften. Zubehör für Standardgrößen und -formen reicht oft nicht aus, um spezielle Muster oder innovative Materialien zu testen.
In Zusammenarbeit mit fortgeschrittenen Anwendern renommierter Labors hat TA eine Reihe von Probenhaltern entwickelt, speziell für die Analyse von:
- Flüssigkeiten
- Pulver
- Pasten
- In-Plane-Testen von dünnen Schichten mit hoher Leitfähigkeit
- In-Plane-Prüfung von Laminaten
Angesichts der ständig steigenden Zahl neuer Materialien, die eine Charakterisierung der Wärmeübertragung erfordern, arbeitet TA mit unseren Kunden an der Entwicklung von Vorrichtungen, um ihre einzigartigen Prüfanforderungen zu erfüllen.
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