Discovery Xenon Flash 200+ 具有獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸™ 源 (HSXD) 和變形多面光管™。這些光學元件共同為樣品提供無與倫比的功率和均勻強度的光脈衝，同時防止樣品架過度閃光。只有 TA Instruments 的高能氙氣設計能夠在 -175 °C 至 900 °C 的溫度範圍內測試直徑為 25.4 mm 的樣品。大樣本的使用減少了與不均勻性相關的誤差，並允許對分散不良的複合材料進行代表性測量。 DXF 平臺專為研發計畫以及生產控制而設計。
DXF 200+ 功能
- 低溫系統，配備高效液氮冷卻系統和固態 PIN 探測器，可準確穩定地控制溫度，達到行業領先的 -175˚C。
- 可輕鬆更換的自動進樣器託 托盤最多可容納 12.7 mm 直徑的樣品或 6 個 25.4 mm 直徑的樣品，以及更多尺寸和形狀的樣品。
- 無論樣品厚度如何，軟體控制的 PIN 載入可以調整，以保持完美接觸，。
- 獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸系統提供的能量比競爭設計高 50%，無論厚度或熱導率如何，都能在最廣泛的樣品上實現最高準確度。
- 多種樣品託 托盤可容納多種樣品尺寸（最大 25.4 毫米）、形狀和特殊夾具（液體、粉末、層壓板、薄膜等），以實現最大的樣品測試靈活性。
- 獲得專利的 Light Pipe™ 可最有效地收集和准直光以及將輻射均勻傳輸到樣品。
- 可以測試最大直徑為 25.4 毫米mm的樣品，以便更輕鬆地製備和處理樣品，並改善非均質材料的結果。
- 即時脈衝映射，可實現薄且高導熱材料的優異熱擴散率。
- 旨在滿足行業標準測試方法，包括：ASTM E1461、ASTM C714、ASTM E2585、ISO 13826、ISO 22007-Part4、ISO 18755、BS ENV 1159-2、DIN 30905 和 DIN EN821
閃光源
| 類型 | 氙，工作台 |
| 脈衝能量 (可變) | 可調最高到 15 焦耳 |
| 脈衝寬度 | 400 微秒至 600 微秒 |
| 獨家光學傳送 | 光管式光導 |
爐腔
| 試樣溫度範圍 | -175°C 至 200°C |
| 氣氛 | 空氣、鈍氣、真空 (50 毫托) |
偵測
| 熱擴散度範圍 | 0.01 至 1000 mm2/s |
| 熱傳導率範圍 | 0.1 至 2000 W/(m*K) |
| 資料採集 | 16 位元 |
準確度
| 熱擴散度 | ±2.3% |
| 熱傳導率 | ±4% |
重現性
| 熱擴散度 | ±2.0% |
| 熱傳導率 | ±3.5% |
試樣
| 圓形 | 直徑 8、10、12.7、25.4 mm |
| 方形 | 長度 8、10、12.7 mm |
| 最大厚度 | 10 mm |
自動進樣器
| 類型 | 十二位轉盤 |
最低可用溫度限制：-175 ˚C
最低可用溫度限制：-175 ˚C
DXF 200+ 的熔爐包括高效的液氮冷卻系統，可在 -175 ˚C 至 200 ˚C 之間實現穩定準確的溫度控制。只有 DXF 200+ 能夠測試材料的熱管理性能至 -175˚C，這使其成為對低溫範圍感興趣的科學家的明確選擇。
來自固態 PIN 檢測器的增強型溫度檢測
來自固態 PIN 檢測器的增強型溫度檢測
DXF 200+ 具有獨特的雙 PIN 檢測器，可在低於環境溫度的情況下提供最佳靈敏度和回應時間。 PIN 檢測器在 -175˚C 下測量的信號幅度與樣品直接接觸，通常比傳統紅外檢測器在最低可檢測溫度（通常為 25 ˚C）下的信號大五倍。這消除了在室溫或低於室溫下工作的 MCT IR 檢測器所需的信號放大需求。結果是改進的熱譜圖具有更高的信噪比，提高了比熱容和熱導率測量的準確性，以及可靠的資料集，可輕鬆進行測試後分析。
獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸TM (HSXD) 源
獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸TM (HSXD) 源
DXF 200+ 具有專有的高速氙氣脈衝傳輸™ (HSXD) 源。憑藉其 15 焦耳的能量，HSXD 產生的閃光燈是市場上所有氙氣系統中最強大、最均勻的閃光燈。
25.4 mm 大樣品直徑，便於樣品處理
25.4 mm 大樣品直徑，便於樣品處理
沒有其他供應商能夠在如此寬的溫度範圍內測試直徑達 25.4 毫米的樣品。更大的樣品更容易製備和處理，保證資料更具代表性和可重複性，並為複合材料或不均勻分散的材料提供更好的結果。
即時脈衝映射
即時脈衝映射
即時脈衝映射系統考慮了有限脈衝寬度效應和熱損失，這對資料準確性至關重要，尤其是在測量薄且高導電材料時。
具有最高信噪比的最低溫度
具有最高信噪比的最低溫度
航空航太和國防工業對新型高性能材料的需求不斷增長，推動了對具有更低溫度範圍和更好資料品質的 Flash Diffusivity 儀器的需求。固態雙 PIN 檢測器可在低至行業領先的 -175 ˚C 下運行，並具有出色的資料品質。
右上圖展示了 DXF200+ 在低溫下的信噪比 (SNR) 品質。即使在 -175 ˚C 時，固態 PIN 檢測器的直接測量信號幅度也大約是室溫下傳統 IR 檢測器信號的五倍。
-175°C 至 900°C 的一致穩定結果資料
-175°C 至 900°C 的一致穩定結果資料
通常，高性能材料需要從極低到高溫進行表徵。右下方的圖表顯示了一種無氧高導熱銅 (OFHC) 參考材料，其中使用 DXF200+ 和 DXF 900 在 -175 ˚C 至 900 ˚C 範圍內測量了導熱率。 所有測量值都在參考值的 ±1.5% 以內。請注意環境溫度和 200 ˚C 之間的值的一致性
公認簡單, 準確的閃光數據分析軟體
所有 Discovery 閃光儀器均包含儀器控制和資料分析的 FlashLine™ 軟體。Microsoft Windows 版軟體提供直覺式表格型格式，藉由儀器控制介面即可進行實驗參數的簡單程式設計。即時監視可在每次測試時立即評估資料品質和儀器效能。資料分析模組的自動化例行程序為使用者提供先進的分析工具，包括傳導和輻射的熱消耗修正模型。
FlashLine™ 軟體可以將捕獲的脈衝形狀做映射，一體修正了雷射脈衝對時間的確切波型，決定正確的峰寬。尤其對於較薄的樣品與高擴散度材料而言，本軟體可以澄清確認閃光零點位置，連同一定的脈衝效應修正功能，保證獲得了準確測量。此外，TA儀器也開發了“適配度(Goodness of Fit) ”評估工具，能夠讓使用者在幾種熱擴散度模型中挑選出最佳計算結果
軟體特點：
- 無限溫度區段，以及使用者定義的溫度增量
- 對於每個試樣使用者可按照溫度區段各自調整雷射能量
- 測試進行中可對任何已完成區段的數據進行分析
- 可透過相對比較的方法決定比熱數據
- 可自動挑選多個發射試驗並進行平均的選項
- 透明和半透明試樣的輻射元件修正
- 閃光能量水平的自動最佳化
- 試樣略過和精度檢定的選項
- X 和 Y 區段的快速縮放功能
- 熱擴散度、比熱和熱傳導率對於溫度函數的關係圖表
- 無論測試進行中或已完成皆可以展開所有模型的計算
標準模型包括：
- 多維度熱損失修正和非線性迴歸的 Gembarovic 模型
- 適配度評估選擇了最佳模型的結果
- 決定 t0 的脈衝重心
- 脈衝長度和形狀修正
- 雙層和三層分析
- 平面上
- 主要模型：Clark and Taylor、Cowan、Degiovanni、Koski、Least Squares、Logarithmic、Moment、Heckman、Azumi 和 Parker
專業裝置
鐳射和氙燈閃光儀器代表了高性能材料研發和熱管理特性研究的前沿期研究工作。通常，標準尺寸和形狀的配件不足以測試特殊樣品或創新材料。
TA 與著名實驗室的高級用戶合作，擁有一系列專為分析而開發的樣品架:
- 液體
- 粉末
- 粘貼 黏貼膠體
- 高電導率薄膜的面內測試
- 層壓板的面內測試
隨著需要進行傳熱表徵的新材料數量不斷增加，TA 致力於與我們的客戶合作開發夾具，以滿足他們獨特的測試要求。
- 說明
-
Discovery Xenon Flash 200+ 具有獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸™ 源 (HSXD) 和變形多面光管™。這些光學元件共同為樣品提供無與倫比的功率和均勻強度的光脈衝，同時防止樣品架過度閃光。只有 TA Instruments 的高能氙氣設計能夠在 -175 °C 至 900 °C 的溫度範圍內測試直徑為 25.4 mm 的樣品。大樣本的使用減少了與不均勻性相關的誤差，並允許對分散不良的複合材料進行代表性測量。 DXF 平臺專為研發計畫以及生產控制而設計。
- 特點
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DXF 200+ 功能
- 低溫系統，配備高效液氮冷卻系統和固態 PIN 探測器，可準確穩定地控制溫度，達到行業領先的 -175˚C。
- 可輕鬆更換的自動進樣器託 托盤最多可容納 12.7 mm 直徑的樣品或 6 個 25.4 mm 直徑的樣品，以及更多尺寸和形狀的樣品。
- 無論樣品厚度如何，軟體控制的 PIN 載入可以調整，以保持完美接觸，。
- 獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸系統提供的能量比競爭設計高 50%，無論厚度或熱導率如何，都能在最廣泛的樣品上實現最高準確度。
- 多種樣品託 托盤可容納多種樣品尺寸（最大 25.4 毫米）、形狀和特殊夾具（液體、粉末、層壓板、薄膜等），以實現最大的樣品測試靈活性。
- 獲得專利的 Light Pipe™ 可最有效地收集和准直光以及將輻射均勻傳輸到樣品。
- 可以測試最大直徑為 25.4 毫米mm的樣品，以便更輕鬆地製備和處理樣品，並改善非均質材料的結果。
- 即時脈衝映射，可實現薄且高導熱材料的優異熱擴散率。
- 旨在滿足行業標準測試方法，包括：ASTM E1461、ASTM C714、ASTM E2585、ISO 13826、ISO 22007-Part4、ISO 18755、BS ENV 1159-2、DIN 30905 和 DIN EN821
- 規格
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閃光源
類型 氙，工作台 脈衝能量 (可變) 可調最高到 15 焦耳 脈衝寬度 400 微秒至 600 微秒 獨家光學傳送 光管式光導 爐腔
試樣溫度範圍 -175°C 至 200°C 氣氛 空氣、鈍氣、真空 (50 毫托) 偵測
熱擴散度範圍 0.01 至 1000 mm2/s 熱傳導率範圍 0.1 至 2000 W/(m*K) 資料採集 16 位元 準確度
熱擴散度 ±2.3% 熱傳導率 ±4% 重現性
熱擴散度 ±2.0% 熱傳導率 ±3.5% 試樣
圓形 直徑 8、10、12.7、25.4 mm 方形 長度 8、10、12.7 mm 最大厚度 10 mm 自動進樣器
類型 十二位轉盤 - 技術
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最低可用溫度限制：-175 ˚C
最低可用溫度限制：-175 ˚C
DXF 200+ 的熔爐包括高效的液氮冷卻系統，可在 -175 ˚C 至 200 ˚C 之間實現穩定準確的溫度控制。只有 DXF 200+ 能夠測試材料的熱管理性能至 -175˚C，這使其成為對低溫範圍感興趣的科學家的明確選擇。
來自固態 PIN 檢測器的增強型溫度檢測
來自固態 PIN 檢測器的增強型溫度檢測
DXF 200+ 具有獨特的雙 PIN 檢測器，可在低於環境溫度的情況下提供最佳靈敏度和回應時間。 PIN 檢測器在 -175˚C 下測量的信號幅度與樣品直接接觸，通常比傳統紅外檢測器在最低可檢測溫度（通常為 25 ˚C）下的信號大五倍。這消除了在室溫或低於室溫下工作的 MCT IR 檢測器所需的信號放大需求。結果是改進的熱譜圖具有更高的信噪比，提高了比熱容和熱導率測量的準確性，以及可靠的資料集，可輕鬆進行測試後分析。
獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸TM (HSXD) 源
獲得專利的高速氙氣脈衝傳輸TM (HSXD) 源
DXF 200+ 具有專有的高速氙氣脈衝傳輸™ (HSXD) 源。憑藉其 15 焦耳的能量，HSXD 產生的閃光燈是市場上所有氙氣系統中最強大、最均勻的閃光燈。
25.4 mm 大樣品直徑，便於樣品處理
25.4 mm 大樣品直徑，便於樣品處理
沒有其他供應商能夠在如此寬的溫度範圍內測試直徑達 25.4 毫米的樣品。更大的樣品更容易製備和處理，保證資料更具代表性和可重複性，並為複合材料或不均勻分散的材料提供更好的結果。
即時脈衝映射
即時脈衝映射
即時脈衝映射系統考慮了有限脈衝寬度效應和熱損失，這對資料準確性至關重要，尤其是在測量薄且高導電材料時。
- 性能
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具有最高信噪比的最低溫度
具有最高信噪比的最低溫度
航空航太和國防工業對新型高性能材料的需求不斷增長，推動了對具有更低溫度範圍和更好資料品質的 Flash Diffusivity 儀器的需求。固態雙 PIN 檢測器可在低至行業領先的 -175 ˚C 下運行，並具有出色的資料品質。
右上圖展示了 DXF200+ 在低溫下的信噪比 (SNR) 品質。即使在 -175 ˚C 時，固態 PIN 檢測器的直接測量信號幅度也大約是室溫下傳統 IR 檢測器信號的五倍。
-175°C 至 900°C 的一致穩定結果資料
-175°C 至 900°C 的一致穩定結果資料
通常，高性能材料需要從極低到高溫進行表徵。右下方的圖表顯示了一種無氧高導熱銅 (OFHC) 參考材料，其中使用 DXF200+ 和 DXF 900 在 -175 ˚C 至 900 ˚C 範圍內測量了導熱率。 所有測量值都在參考值的 ±1.5% 以內。請注意環境溫度和 200 ˚C 之間的值的一致性 - 軟體
-
公認簡單, 準確的閃光數據分析軟體
所有 Discovery 閃光儀器均包含儀器控制和資料分析的 FlashLine™ 軟體。Microsoft Windows 版軟體提供直覺式表格型格式，藉由儀器控制介面即可進行實驗參數的簡單程式設計。即時監視可在每次測試時立即評估資料品質和儀器效能。資料分析模組的自動化例行程序為使用者提供先進的分析工具，包括傳導和輻射的熱消耗修正模型。FlashLine™ 軟體可以將捕獲的脈衝形狀做映射，一體修正了雷射脈衝對時間的確切波型，決定正確的峰寬。尤其對於較薄的樣品與高擴散度材料而言，本軟體可以澄清確認閃光零點位置，連同一定的脈衝效應修正功能，保證獲得了準確測量。此外，TA儀器也開發了“適配度(Goodness of Fit) ”評估工具，能夠讓使用者在幾種熱擴散度模型中挑選出最佳計算結果
軟體特點：
- 無限溫度區段，以及使用者定義的溫度增量
- 對於每個試樣使用者可按照溫度區段各自調整雷射能量
- 測試進行中可對任何已完成區段的數據進行分析
- 可透過相對比較的方法決定比熱數據
- 可自動挑選多個發射試驗並進行平均的選項
- 透明和半透明試樣的輻射元件修正
- 閃光能量水平的自動最佳化
- 試樣略過和精度檢定的選項
- X 和 Y 區段的快速縮放功能
- 熱擴散度、比熱和熱傳導率對於溫度函數的關係圖表
- 無論測試進行中或已完成皆可以展開所有模型的計算
標準模型包括：
- 多維度熱損失修正和非線性迴歸的 Gembarovic 模型
- 適配度評估選擇了最佳模型的結果
- 決定 t0 的脈衝重心
- 脈衝長度和形狀修正
- 雙層和三層分析
- 平面上
- 主要模型：Clark and Taylor、Cowan、Degiovanni、Koski、Least Squares、Logarithmic、Moment、Heckman、Azumi 和 Parker
- 試樣架
-
專業裝置
鐳射和氙燈閃光儀器代表了高性能材料研發和熱管理特性研究的前沿期研究工作。通常，標準尺寸和形狀的配件不足以測試特殊樣品或創新材料。
TA 與著名實驗室的高級用戶合作，擁有一系列專為分析而開發的樣品架:
- 液體
- 粉末
- 粘貼 黏貼膠體
- 高電導率薄膜的面內測試
- 層壓板的面內測試
隨著需要進行傳熱表徵的新材料數量不斷增加，TA 致力於與我們的客戶合作開發夾具，以滿足他們獨特的測試要求。
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