Leistungsfähige Hochgeschwindigkeits-Xenon-Lichtquelle und patentierte Leitoptik für genaueste Messungen zum thermischen Diffusionsvermögen bis zu 500 °C.
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Die Discovery Xenon Flash DXF 500-Plattform verfügt über die patentierte HochgeschwXenon Flashindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High-Speed Xenon-pulse Delivery™“ (HSXD) sowie den anamorphen, facettenreichen Lichtleiter „Light Pipe™“. Zusammen leiten diese Optiken einen Lichtimpuls von unerreichter Kraft und gleichmäßiger Intensität auf die Probe und verhindern gleichzeitig eine Fehlstrahlung auf den Probenhalter. Die Hochenergiexenonkonstruktion von TA Instruments ist in der Lage, Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25,4 mm über einen Temperaturbereich von Umgebungstemperatur bis +500 °C zu prüfen. Der Einsatz großer Proben minimiert Fehler durch Inhomogenitäten und erlaubt repräsentative Messungen bei schlecht verteilten Verbundmaterialien. Die DXF-Plattform ist für Forschungs- und Entwicklungsprogramme ebenso wie für die Produktionskontrolle ausgelegt.
Merkmale des DXF 500
- Patentiertes Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtsystem liefert 50 % mehr Energie als Konstruktionen von Wettbewerbern und bietet somit die höchste Genauigkeit für das breiteste Probenspektrum, unabhängig von deren Dicke oder Wärmeleitfähigkeit
- Patentierter Lichtleiter „Light Pipe™“ für eine möglichst effektive Bündelung und Kollimation von Licht sowie homogene Leitung von Strahlung auf die Probe
- Echtzeit-Impulszuordnung für überlegenes thermisches Diffusionsvermögen von dünnen und hochleitenden Materialien
- Breites Angebot an Probenträgern für verschiedenste Probengrößen (Durchmesser bis zu 25,4 mm), Formen und spezielle Aufnahmevorrichtungen (für Flüssigkeiten, Pulver, Schichtstoffe, Folien etc.) für bestmögliche Flexibilität bei der Probenmessung
- Autosampler mit patentiertem 4-Positionen-Probenträger aus Aluminium für maximale Produktivität
- Moderner, widerstandsbeheizter Ofen für eine erstklassige Temperaturstabilität und -gleichmäßigkeit bei Proben unter Raumtemperatur bis 500 °C. Messungen in Luft, Inertgas oder Vakuum sind möglich.
- Hochempfindlicher IR-Detektor für einen optimalen Signal-Rausch-Abstand, um höchste Genauigkeit über den gesamten Temperaturbereich zu liefern
- Erfüllt eine Vielzahl von Industriestandard-Prüfmethoden wie ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-Part4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 und DIN EM821
Laserquelle
| Typ | Tischgerät |
| Impulsenergie (variabel) | Variabel mit bis zu 25 Joule |
| Impulslänge | 400 µs bis 600 µs |
| Eigens entwickelte Übertragungsoptik | Strahlführung für Lichtleiter |
Ofen
| Temperaturbereich | RT bis 500 °C |
| Atmosphäre | Luft, Inertgas, max. Vakuum (50 mtorr) |
Erkennung
| Bereich des thermischen Diffusionsvermögens | 0.01 bis 1000 mm2/s |
| Wärmeleitfähigkeitsbereich | 0.1 bis 2000 W/(m*K) |
| Datenerfassung | 16 bit |
Genauigkeit
| Thermisches Diffusionsvermögen | ±2.3% |
| Wärmeleitfähigkeit | ±4% |
Wiederholbarkeit
| Thermisches Diffusionsvermögen | ±2.0% |
| Wärmeleitfähigkeit | ±3.5% |
Probe
| Rund | 8, 10, 12,7 und 25,4 mm Durchmesser |
| Vierkant | 8, 10 und 12,7 mm Länge |
| Maximale Dicke | 10 mm |
Autosampler
| Typ | 4-Positionsträger, Inertgas, max. Vakuum: 50 mtorr |
Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle<br> „High Speed Xenon-Pulse Delivery™“ (HSXD)
Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High Speed Xenon-Pulse Delivery™“ (HSXD)
Das DXF 500 verfügt über eine eigens entwickelte Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High-Speed Xenon-pulse Delivery™“ (HSXD), die 50 % mehr Energie abgibt als vergleichbare Xenonsysteme. Das patentierte Design besteht aus einer Xenonquelle, deren Licht auf einen Spiegel gerichtet ist und so einen sehr gleichmäßigen Strahl produziert. Mit einer Leistung von 15 Joule ist der von der HSXD ausgegebene Strahl der kräftigste und gleichmäßigste aller Xenonsysteme auf dem Markt, und er ermöglicht das Prüfen dicker Proben mit geringer Leitfähigkeit.
Patentierter Lichtleiter und IR-Neutralfilter<br> für bisher unerreichte Genauigkeit
Patentierter Lichtleiter und IR-Neutralfilter für bisher unerreichte Genauigkeit
Die patentierte Light Pipe-Lichtwellenführung bündelt und kollimiert den HSXD-Quellstrahl und leitet die Energie so direkt auf die Probe. Dieser einzigartige, hoch effiziente optische Weg sorgt für eine homogene, hochwertige Strahlung, die die auf die Probenoberfläche auftreffende Energie maximiert. Die IR-Intensität wird mithilfe von IR-Neutralfiltern auf den optimalen Detektorbereich abgestimmt. Anders als Systeme, die auf einer Konstruktion aus mehreren Blenden oder einer Irisblende beruhen, um die Intensität abzuschwächen, bietet der Neutralfilter eine gleichmäßige Dämpfung der Intensität. Darüber hinaus sind keine geometrischen Faktoren zu berücksichtigen, und auch eine Spektralbandverzerrung ist nicht zu befürchten. Diese sorgfältig entwickelte Detektoroptik sorgt für eine unvergleichliche Genauigkeit über den gesamten Bereich des thermischen Diffusionsvermögens.
Flexible Mehr-Positionen-Probenhalter
Flexible Mehr-Positionen-Probenhalter
Das Probeneinschlusssystem nutzt linear angeordnete Probenhalteträger für schnelles und einfaches Laden. Ein Kranz auf dem Boden des Probenhalters hält die Probe, sodass keinerlei Druck- oder Klemmbelastung wirkt. Damit ist das System ideal für sehr empfindliche Proben geeignet. Die patentierte* lineare Anordnung garantiert eine perfekte Ausrichtung des Probenhalters zur Flash-Strahlung.
Benutzer können aus zahlreichen Probenhaltern wählen: Es gibt Modelle für zwei oder vier Proben mit Probengrößen von 8 mm bis 25,4 mm in runder oder eckiger Form. Für Proben mit speziellen Anforderungen an den Probenhalter bietet TA Instruments eine Vielzahl an Zubehör für Flüssigkeiten, Pulver, Schichtstoffe sowie Materialien mit extrem hohem thermischem Diffusionsvermögen.
*US-Patentnummer 6,375,349B1
Bewährte Softwareplattform für einfache und genaue Blitzanalysedaten
Allen Discovery Light Flash-Geräten ist die Software FlashLine™ für Gerätesteuerung und Datenanalyse beigelegt. Die für Microsoft Windows programmierte Software weist ein intuitiv bedienbares Tabellenformat auf, das eine einfache Programmierung experimenteller Parameter auf der Oberfläche zur Gerätesteuerung ermöglicht. Die Echtzeitüberwachung erlaubt eine unmittelbare Bewertung von Datenqualität und Geräteleistung während der Testdurchführung. Die automatischen Routinen des Datenanalysemoduls bieten den Benutzern erweiterte Analysewerkzeuge, einschließlich Modellen für die Wärmeverlustkorrektur sowohl bei Leitung als auch bei Strahlung. Dank des integrierten Messsystems mit Impulsformzuordnung bestimmt FlashLine die exakte Form des Laserimpulses im Vergleich zur erforderlichen Dauer für die Impulsform- und -breitenkorrektur. Es identifiziert auch den Nullpunkt des Blitzes und ermöglicht eine finite Impulseffektkorrektur, welche für genaue Messungen von dünnen Proben und Materialien mit hohem Diffusionsvermögen unabdingbar ist. Darüber hinaus ermöglicht das von TA Instruments entwickelte Bewertungsprogramm „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) den Benutzern, die besten aus unterschiedlichen Modellen zum thermischen Diffusionsvermögen berechneten Ergebnisse auszuwählen.
Softwarefunktionen:
- Unbegrenzte Temperatursegmente mit benutzerdefinierbaren Wärmerampenstufen
- Vom Benutzer wählbare Laserenergie für jede Probe je nach Temperatursegment
- Datenanalyse aller beinahe abgeschlossenen Segmente während der Prüfung
- Bestimmung der spezifischen Wärme durch Vergleichsmethoden
- Option einer automatischen Auswahl und Mittelwertbildung von mehreren Aufnahmen
- Korrektur für die Strahlungskomponenten bei transparenten und lichtdurchlässigen Proben
- Automatische Optimierung der Blitzenergiestärke
- Option zum Überspringen von Proben und eines Präzisionskriteriums
- Schneller Zoom für X- und Y-Segmente
- Tabellen und Kurven zu thermischem Diffusionsvermögen, spezifischer Wärme und Wärmeleitfähigkeit als Funktion der Temperatur
- Berechnungen aller Modelle während der Prüfung und der Modelle, die bei Abschluss der Prüfung verfügbar sind
Zu den Standardmodellen gehören:
- Gembarovic für die mehrdimensionale Wärmeverlustkorrektur und nichtlineare Regression
- „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) für die Auswahl des besten Modellergebnisses
- Impulsschwerpunkt zur Bestimmung von t0
- Impulslängen- und -formkorrektur
- Zwei- und Dreischichtanalyse
- In-Plane
- Hauptmodelle Clark und Taylor, Cowan, Degiovanni, Koski, kleinste Quadrate, logarithmisch, Moment, Heckman, Azumi und Parker
- Beschreibung
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Die Discovery Xenon Flash DXF 500-Plattform verfügt über die patentierte HochgeschwXenon Flashindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High-Speed Xenon-pulse Delivery™“ (HSXD) sowie den anamorphen, facettenreichen Lichtleiter „Light Pipe™“. Zusammen leiten diese Optiken einen Lichtimpuls von unerreichter Kraft und gleichmäßiger Intensität auf die Probe und verhindern gleichzeitig eine Fehlstrahlung auf den Probenhalter. Die Hochenergiexenonkonstruktion von TA Instruments ist in der Lage, Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25,4 mm über einen Temperaturbereich von Umgebungstemperatur bis +500 °C zu prüfen. Der Einsatz großer Proben minimiert Fehler durch Inhomogenitäten und erlaubt repräsentative Messungen bei schlecht verteilten Verbundmaterialien. Die DXF-Plattform ist für Forschungs- und Entwicklungsprogramme ebenso wie für die Produktionskontrolle ausgelegt.
- Merkmale
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Merkmale des DXF 500
- Patentiertes Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtsystem liefert 50 % mehr Energie als Konstruktionen von Wettbewerbern und bietet somit die höchste Genauigkeit für das breiteste Probenspektrum, unabhängig von deren Dicke oder Wärmeleitfähigkeit
- Patentierter Lichtleiter „Light Pipe™“ für eine möglichst effektive Bündelung und Kollimation von Licht sowie homogene Leitung von Strahlung auf die Probe
- Echtzeit-Impulszuordnung für überlegenes thermisches Diffusionsvermögen von dünnen und hochleitenden Materialien
- Breites Angebot an Probenträgern für verschiedenste Probengrößen (Durchmesser bis zu 25,4 mm), Formen und spezielle Aufnahmevorrichtungen (für Flüssigkeiten, Pulver, Schichtstoffe, Folien etc.) für bestmögliche Flexibilität bei der Probenmessung
- Autosampler mit patentiertem 4-Positionen-Probenträger aus Aluminium für maximale Produktivität
- Moderner, widerstandsbeheizter Ofen für eine erstklassige Temperaturstabilität und -gleichmäßigkeit bei Proben unter Raumtemperatur bis 500 °C. Messungen in Luft, Inertgas oder Vakuum sind möglich.
- Hochempfindlicher IR-Detektor für einen optimalen Signal-Rausch-Abstand, um höchste Genauigkeit über den gesamten Temperaturbereich zu liefern
- Erfüllt eine Vielzahl von Industriestandard-Prüfmethoden wie ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-Part4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 und DIN EM821
- Technische Daten
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Laserquelle
Typ Tischgerät Impulsenergie (variabel) Variabel mit bis zu 25 Joule Impulslänge 400 µs bis 600 µs Eigens entwickelte Übertragungsoptik Strahlführung für Lichtleiter Ofen
Temperaturbereich RT bis 500 °C Atmosphäre Luft, Inertgas, max. Vakuum (50 mtorr) Erkennung
Bereich des thermischen Diffusionsvermögens 0.01 bis 1000 mm2/s Wärmeleitfähigkeitsbereich 0.1 bis 2000 W/(m*K) Datenerfassung 16 bit Genauigkeit
Thermisches Diffusionsvermögen ±2.3% Wärmeleitfähigkeit ±4% Wiederholbarkeit
Thermisches Diffusionsvermögen ±2.0% Wärmeleitfähigkeit ±3.5% Probe
Rund 8, 10, 12,7 und 25,4 mm Durchmesser Vierkant 8, 10 und 12,7 mm Länge Maximale Dicke 10 mm Autosampler
Typ 4-Positionsträger, Inertgas,
max. Vakuum: 50 mtorr - Technologie
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Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle<br> „High Speed Xenon-Pulse Delivery™“ (HSXD)
Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High Speed Xenon-Pulse Delivery™“ (HSXD)
Das DXF 500 verfügt über eine eigens entwickelte Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle „High-Speed Xenon-pulse Delivery™“ (HSXD), die 50 % mehr Energie abgibt als vergleichbare Xenonsysteme. Das patentierte Design besteht aus einer Xenonquelle, deren Licht auf einen Spiegel gerichtet ist und so einen sehr gleichmäßigen Strahl produziert. Mit einer Leistung von 15 Joule ist der von der HSXD ausgegebene Strahl der kräftigste und gleichmäßigste aller Xenonsysteme auf dem Markt, und er ermöglicht das Prüfen dicker Proben mit geringer Leitfähigkeit.
Patentierter Lichtleiter und IR-Neutralfilter<br> für bisher unerreichte Genauigkeit
Patentierter Lichtleiter und IR-Neutralfilter für bisher unerreichte Genauigkeit
Die patentierte Light Pipe-Lichtwellenführung bündelt und kollimiert den HSXD-Quellstrahl und leitet die Energie so direkt auf die Probe. Dieser einzigartige, hoch effiziente optische Weg sorgt für eine homogene, hochwertige Strahlung, die die auf die Probenoberfläche auftreffende Energie maximiert. Die IR-Intensität wird mithilfe von IR-Neutralfiltern auf den optimalen Detektorbereich abgestimmt. Anders als Systeme, die auf einer Konstruktion aus mehreren Blenden oder einer Irisblende beruhen, um die Intensität abzuschwächen, bietet der Neutralfilter eine gleichmäßige Dämpfung der Intensität. Darüber hinaus sind keine geometrischen Faktoren zu berücksichtigen, und auch eine Spektralbandverzerrung ist nicht zu befürchten. Diese sorgfältig entwickelte Detektoroptik sorgt für eine unvergleichliche Genauigkeit über den gesamten Bereich des thermischen Diffusionsvermögens.
Flexible Mehr-Positionen-Probenhalter
Flexible Mehr-Positionen-Probenhalter
Das Probeneinschlusssystem nutzt linear angeordnete Probenhalteträger für schnelles und einfaches Laden. Ein Kranz auf dem Boden des Probenhalters hält die Probe, sodass keinerlei Druck- oder Klemmbelastung wirkt. Damit ist das System ideal für sehr empfindliche Proben geeignet. Die patentierte* lineare Anordnung garantiert eine perfekte Ausrichtung des Probenhalters zur Flash-Strahlung.
Benutzer können aus zahlreichen Probenhaltern wählen: Es gibt Modelle für zwei oder vier Proben mit Probengrößen von 8 mm bis 25,4 mm in runder oder eckiger Form. Für Proben mit speziellen Anforderungen an den Probenhalter bietet TA Instruments eine Vielzahl an Zubehör für Flüssigkeiten, Pulver, Schichtstoffe sowie Materialien mit extrem hohem thermischem Diffusionsvermögen.
*US-Patentnummer 6,375,349B1
- Software
-
Bewährte Softwareplattform für einfache und genaue Blitzanalysedaten
Allen Discovery Light Flash-Geräten ist die Software FlashLine™ für Gerätesteuerung und Datenanalyse beigelegt. Die für Microsoft Windows programmierte Software weist ein intuitiv bedienbares Tabellenformat auf, das eine einfache Programmierung experimenteller Parameter auf der Oberfläche zur Gerätesteuerung ermöglicht. Die Echtzeitüberwachung erlaubt eine unmittelbare Bewertung von Datenqualität und Geräteleistung während der Testdurchführung. Die automatischen Routinen des Datenanalysemoduls bieten den Benutzern erweiterte Analysewerkzeuge, einschließlich Modellen für die Wärmeverlustkorrektur sowohl bei Leitung als auch bei Strahlung. Dank des integrierten Messsystems mit Impulsformzuordnung bestimmt FlashLine die exakte Form des Laserimpulses im Vergleich zur erforderlichen Dauer für die Impulsform- und -breitenkorrektur. Es identifiziert auch den Nullpunkt des Blitzes und ermöglicht eine finite Impulseffektkorrektur, welche für genaue Messungen von dünnen Proben und Materialien mit hohem Diffusionsvermögen unabdingbar ist. Darüber hinaus ermöglicht das von TA Instruments entwickelte Bewertungsprogramm „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) den Benutzern, die besten aus unterschiedlichen Modellen zum thermischen Diffusionsvermögen berechneten Ergebnisse auszuwählen.Softwarefunktionen:
- Unbegrenzte Temperatursegmente mit benutzerdefinierbaren Wärmerampenstufen
- Vom Benutzer wählbare Laserenergie für jede Probe je nach Temperatursegment
- Datenanalyse aller beinahe abgeschlossenen Segmente während der Prüfung
- Bestimmung der spezifischen Wärme durch Vergleichsmethoden
- Option einer automatischen Auswahl und Mittelwertbildung von mehreren Aufnahmen
- Korrektur für die Strahlungskomponenten bei transparenten und lichtdurchlässigen Proben
- Automatische Optimierung der Blitzenergiestärke
- Option zum Überspringen von Proben und eines Präzisionskriteriums
- Schneller Zoom für X- und Y-Segmente
- Tabellen und Kurven zu thermischem Diffusionsvermögen, spezifischer Wärme und Wärmeleitfähigkeit als Funktion der Temperatur
- Berechnungen aller Modelle während der Prüfung und der Modelle, die bei Abschluss der Prüfung verfügbar sind
Zu den Standardmodellen gehören:
- Gembarovic für die mehrdimensionale Wärmeverlustkorrektur und nichtlineare Regression
- „Goodness of Fit“ (Anpassungsgüte) für die Auswahl des besten Modellergebnisses
- Impulsschwerpunkt zur Bestimmung von t0
- Impulslängen- und -formkorrektur
- Zwei- und Dreischichtanalyse
- In-Plane
- Hauptmodelle Clark und Taylor, Cowan, Degiovanni, Koski, kleinste Quadrate, logarithmisch, Moment, Heckman, Azumi und Parker
