光/雷射閃射分析是一種用於測定材料的熱擴散係數、熱傳導率和比熱容的測量技術。閃射測量對於表徵各種材料的傳熱和儲存特性至關重要，無論研究的樣品是期望絕緣、傳導，還是僅僅承受溫度變化。傳熱效能測量通常用於類比通過系統的熱傳輸，但也反映了有關材料成分和結構的重要資訊，以及諸如熱衝擊耐受性等次要效能特徵。光/雷射閃射是測量大範圍溫度下的熱擴散係數的最有效方法，並提供精確、可重複結果的無損材料測試。
Xenon 和 Laser Flash 儀器在樣品的前側施加熱能脈衝，並測量後背側隨時間傳入能量而升高溫度的時溫變化訊號，以測量材料的熱擴散係數或熱傳遞速度。然後，可以使用得到的熱譜圖來確定熱傳導率和比熱容。應用的能量由 TA Discovery Flash 儀器專有的高能 Laser 或 Xenon 脈衝源產生，由此產生的溫度升高是由業界唯一的 PIN 接觸式探測器或 IR 感應式探測器測量。應用中理想光源和探測器的選擇取決於許多變數，包括樣本形態、尺寸（長、寬、厚）、預期熱傳導率和測量溫度範圍。
TA Instruments Discovery Flash 產品線提供最引人注目的台式和立式閃射擴散分析儀。在 -175°C 至 2800°C 最廣泛的溫度範圍內和多個光源和探測器選項的測量能力，可提供真實測量而無需外插。各種樣品承接器和夾具可用於分析各種材料形式，如液體、糊狀物和粉末，以及薄膜的平面內測量，厚樣品的平面分析，以及金屬的熔體轉變。每個系統都包括一個多樣品自動進樣器，不僅可以將生產率提高幾倍，還可以顯著提高比熱容結果的準確性。TA Instruments 專有閃射技術，結合全時脈衝映射、精密光學和最新的資料分析模型，使 Discovery Flash 平台成為同類產品中功能最豐富、最精準的閃射系統。
